Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Hnatek, Eugene R.

Omschrijving

Er is geen omschrijving gevonden.

Gratis verzending vanaf
€ 19,95 binnen Nederland
Schrijver
Hnatek, Eugene R.
Titel
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Uitgever
Springer US, New York, N.Y.
Jaar
1993
Taal
Engels
Pagina's
194
Gewicht
476 gr
EAN
9780442006433
Afmetingen
235 x 155 x 15 mm
Bindwijze
Hardback

U ontvangt bij ons altijd de laatste druk!


Rubrieken

Boekstra